Joint Test Action Group

JTAG ist ein Verfahren zum Debugging von elektrischer Hardware und steht für "Joint Test Action Group".

Sie entstand durch einen Zusammenschluß von Halbleiterherstellern im Jahre 1985/86. Es wurde ein Standard erarbeitet, welcher in der Norm IEEE 1149.1-1990 festgehalten ist. Besser bekannt durch das Verfahren Boundary Scan Test.

Zweck ist, integrierte Schaltkreise, welche sich bereits in einer Arbeitsumgebung befinden, beispielsweise verlötet auf einer Platine, auf Funktion zu testen. Dazu werden integrierte Schaltkreise in ihrem inneren Aufbau durch JTAG-Komponenten ergänzt.

Im allgemeinen wird von der JTAG-Schnittstelle oder dem JTAG-Port gesprochen. Diese besteht aus 5 Steuerleitungen:

• Test Data Input
• Test Data Output
• Test ClocK
• Test Mode Select
• Test ReSeT

Inzwischen wird JTAG vermehrt auch zur Konfiguration von FPGAs verwendet.