Optisches Rasternahfeldmikroskop

Ein optisches Rasternahfeldmikroskop (auch SNOM: scanning nearfield optical microscope)umgeht die Auflösungsgrenze des optischen Mikroskops, indem es nur Licht auswertet, das zwischen einer sehr kleinen (100 Nanometer oder weniger) Nahfeldsonde und der untersuchten Probe ausgetauscht wird. Die Nahfeldsonde wird in einem Raster von Punkten über die Probe bewegt; die Information aus allen Punkten wird zu einem kompletten Bild der Probe zusammengesetzt.

Das verwendete Licht liegt in Form evaneszenter Wellen vor, die in ihrer Ausbreitungsrichtung exponentiell gedämpft sind und daher nur dann auswertbar sind, wenn die Nahfeldsonde weniger als etwa 20 Nanometer von der Probe entfernt ist. Dieses Licht wird daher auch als Nahfeldlicht bezeichnet.

Der Vorteil eines optischen Rasternahfeldmikroskops liegt darin, dass aus der konventionellen optischen Mikroskopie bekannte Kontrastmechanismen genutzt werden können, die Probe zerstörungsfrei untersucht wird und dass im Gegensatz zum Rastertunnelmikroskop die Abbildung nicht im Ultrahochvakuum durchgeführt werden muss.