Design for Test

Design for testing oder Design for testability (englisch frei für ‚Produktentwicklung für Testfähigkeit‘), kurz DFT beschreibt eine Methode bei der Entwicklung Integrierter Schaltungen (ICs), die sicherstellen soll, dass das fertige Produkt auf die korrekte Funktionalität getestet werden kann.

Siehe auch

• Scan Test