Rietveld-Methode

Der Begriff Rietveld-Methode bezeichnet ein vom niederländischen 1968 Physiker Hugo Rietveld (*1932) ursprünglich zur Kristallstrukturanalyse polykristalliner Proben mittels Neutronenstrahlung entwickeltes Verfahren. Sie wird seit 1977 auch für Untersuchungen mit Röntgenstrahlung verwendet

Prinzip: Das Röntgenbeugungs-Diagramm (auch XRD-Diagramm; X-Ray Diffraction, XRD) einer polykristallinen Substanz wird als mathematische Funktion angesehen, die auch von strukturellen Parametern abhängig ist, die durch die räumliche Anordnung der Atome gegeben sind. Ausgehend von einem Anfangsmodell werden diese strukturellen und zusätzlich noch instrumentelle Parameter immer weiter verfeinert. Dies wird solange wiederholt bis im Idealfall zwischen dem berechneten und dem gefunden XRD-Diagramm keine Unterschiede mehr bestehen. In der Praxis wird dieser Fall aber kaum erreicht.

Abb. 1: Beispiel für eine Rietveldverfeinerung. Obere Kurve:gemessenes Röntgenbeugungsdiagramm, untere Kurve: Differenz zum berechneten Beugungsdiagramm, dazwischen: berechnete Reflexlagen

Literatur

• R.A. Young: The Rietveld Method, Oxford University Press, ISBN 0-19-8555577-6