DIN EN ISO 25178, OENORM EN ISO 25178, SN EN ISO 25178
Die NormenreiheISO 25178 beschäftigt sich mit der flächenhaften Rauheitsmessung und erlaubt eine Vielzahl an neuen Auswertungen, um Funktionen der Oberfläche besser zu beschreiben.
Diese Norm wurde vom Technischen Komitee TC213 der Arbeitsgruppe WG16 der ISO erarbeitet. Es ist die erste internationale Norm, die Messung und Spezifikation von 3D-Oberflächentexturen berücksichtigt. Im Einzelnen definiert die Norm 3D-Texturparameter und die zugehörigen Operatoren zu deren Bestimmung. Sie beschreibt auch die anwendbare Messtechnik, Kalibriermethoden und physikalische Kalibrierstandards, sowie die dafür nötige Kalibriersoftware.
Eine grundlegend neuer Bestandteil der Norm ist die Abdeckung der berührungslosen Messmethoden, die zwar schon weit in der Industrie verbreitet sind, denen aber bisher eine Norm fehlte, um Qualitätsaudits nach EN ISO 9001 durchzuführen. Die Norm führt zum ersten Mal 3D-Oberflächencharakterisierung in Bereiche ein, in denen die 2D-Profilometer seit über 30 Jahren durch Normen standardisiert wurden. Das Gleiche gilt für die damit verbundene Oberflächenmesstechnik, die nicht auf mechanisch abtastende Verfahren beschränkt ist, sondern auch Konfokalmikroskope oder Interferometer umfasst.
Die ISO 25178 definiert den flächenbezogenen Rauheitswert über das arithmetische Mittel der Topographiehöhe :
wobei die betrachtete Oberfläche und die Profilhöhe ist. Die Einheit von ist eine Länge. Die Messung der Profilhöhe und deren Integral erfolgt über die oben genannten Methoden.
