Als Cantilever wird die Messnadel von Rasterkraftmikroskopen (AFM) bezeichnet. Diese besteht typischerweise aus einer ca. 3,4 mm langen und 1,6 mm breiten Substratfläche (blaue Markierung im Bild), an der sich eine durch Ätztechnik hergestellte Biegefeder von 100 bis 300 µm Länge, 20 bis 80 µm Breite und 1 bis 3 µm Dicke befindet. Die große Fläche dient dabei nur zum Einspannen in den AFM-Messkopf.
Die eigentliche Messnadel hat an ihrem vordersten Ende den so genannten Tip - eine Spitze, die idealerweise auf eine Breite von nur wenigen Atomen zuläuft. Die Spitzenradien betragen bei guten Spitzen 5 nm und weniger (siehe Vergrößerung im unteren Bild).
Für die unterschiedlichen Messmodi, die unter dem Begriff Rasterkraftmikroskop genauer beschrieben sind, ist es nötig, dass der Cantilever elektrisch leitend ist. Zu diesem Zweck werden mit Platin oder Gold besputterte oder bedampfte Messnadeln angeboten. Weiterhin gibt es auch AFM-Tips mit magnetisierbaren Oberflächen, auf die ferromagnetische Substanzen aufgebracht sind. Die dabei verwendeten Schichten sind nur wenige 10 nm dick, um nicht den Spitzenradius und damit letztlich die Auflösung des Geräts zu verschlechtern.