Design for testing oder Design for testability (englisch frei für ‚Produktentwicklung für Testfähigkeit‘), kurz DFT beschreibt eine Methode bei der Entwicklung Integrierter Schaltungen (ICs), die sicherstellen soll, dass das fertige Produkt auf die korrekte Funktionalität getestet werden kann.
Da sich die Anzahl der Transistoren auf ICs nach dem Mooresches Gesetz ca. alle 1–2 Jahre verdoppelt, mussten in den 1970er und 1980er Jahren Strategien entwickelt werden, wie derartige VLSI-Schaltungen effektiv entwickelt, produziert, die Funktionen verifiziert und gestestet werden können. Maßgeblich vorangetrieben wurde die Electronic Design Automation durch das 1980 von Carver Mead vom California Institute of Technology und Lynn Conway vom Xerox PARC veröffentlichte Buch Introduction to VLSI Systems.[1]
Siehe auch
Weblinks
Einzelnachweise
- ↑ Carver Mead, Lynn Conway: Introduction to VLSI Systems. Addison-Wesley, Reading, Mass. 1980, ISBN 0-201-04358-0.