Die Diskussion über diesen Antrag findet auf der Löschkandidatenseite statt.
Hier der konkrete Grund, warum dieser Artikel nicht den Qualitätsanforderungen entsprechen soll: Das ist so kein Artikel - sagt überhaupt nichts darüber aus, wo der Begriff herkommt, wo er verwendet wird usw. So lange das bei dem einen Satz bleibt, kann der auch locker in Interferometrie eingearbeitet werden. --Reinhard 19:43, 4. Feb 2006 (CET)
Die Grundlage der Speckle-Interferometrie ist der Speckle-Effekt
Wenn man eine rauhe Oberfläche mit Laserlicht (also kohärentem Licht) beleuchtet, so schweben körnige kontrastreiche helle und dunkle Flecken scheinbar über der Oberfläche und bilden ein zufälliges Muster. (Dies kann man mit einem Laserpointer der auf eine weisse Wand leuchter jederzeit sehen. Dies ist der Speckle-Effekt.) Dieses Muster ist für diese Oberfläche charakteristisch, es entsteht durch die vielen Punkte der Oberfläche, die das Licht streuen. Dieses gestreute Licht interferiert mit sich und erzeugt dieses Muster (Speckles). Wird die Oberfläche bewegt, bewegen sich diese Muster mit.
Die Speckle-Interferometrie beruht auf der Überlagerung zweier solcher Specklebilder von selbem Objekt. Wird das Objekt einem äußeren Einfluß ausgesetzt (z. b. Schwingung) interferieren diese beiden Specklebilder. Durch diese Interferenz der beiden Bilder bilden sich sogenannte Korrelationsstreifen aus. Diese Korrelationsstreifen bilden ein charakteristische Muster aus, die die Auswirkung des äußeren Einfluss auf des Objekt darstellt.
Dieses Verfahren wird in der Materialforschung zur Verformungsanalyse bis in den Nanometer bereich eingesetzt. Untersucht werden damit Effekte von Vibrationen, Thermischer Belastung und Zug- Scherspannugnen u. v. m.
Diese im Rahmen der Speckle-Interferometrie: entwickelten Rechenverfahren werden auch in der Astronomie angewendet. Durch ihre Verfeinerung haben sie z.B. bei der Sonnenbeobachtung als nützlich erwiesen.
Hier ist ein typischer Anwendungsfall das Eliminieren von atmosphärischen Störungen. Dazu werden in einem kurzen Zeitraum unmittelbar nacheinander viele Aufnahmen von selben Objekt gemacht (z.B Sonnenflecken). Diese Aufnahmen werden rechnerisch mit Hilfe der mathematischen Verfahren Speckle-Interferometrie überlagert. Wenn sich die beobachteten Objekte nur langsam in der Zeit für alle Aufnahmen ändern können die Störungen eliminiert werden.
Im Gegensatz zur Interferometrie wie sie oben beschreiben ist ist man hier nicht an den sich ändernden Mustern interessiert, sondern an den Teilen die sich nicht ändern. Hier werden also vom Orginalbild alle sich schnell ändernden Punkte entfernt so das die darunterliegende Struktur schärfer zu sehen ist.