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Diskussion:Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology

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Letzter Kommentar: vor 9 Jahren von GiftBot in Abschnitt Defekte Weblinks

Vorlage:Archiv Tabelle

Parameterwerte

die englische Version hat viel mehr Parameter und wesentlich besser erklärt, siehe http://en.wikipedia.org/wiki/Self-Monitoring%2C_Analysis_and_Reporting_Technology (nicht signierter Beitrag von 213.164.6.19 (Diskussion) 08:09, 2. Dez. 2008 (CET))Beantworten

Wer hat denn diesmal wieder...?

Bitte was?! Überlauf wie beim Tacho? Der RAW-Value der Betrübszeit ist in Sekunden oder Minuten, 32 bit halten für 136 (signed: 68) bzw. 8000 Jahre. Jetzt muß ich nur warten, bis ich die Platte in Lt. Cmdr. LaFroschs *1000000 Zeitfeld legen kann, und schon kann ich sie als neu auf der Bucht verkloppen!!1!

GiftBot (Diskussion) 21:10, 2. Dez. 2015 (CET)Beantworten

Manipulierbarkeit von Smart-Daten

Ich vermisse einen Hinweis auf die Manipulierbarkeit von Smart-Daten. Stehen Smart-Daten unveränderlich auf der Platte oder kann man sie verändern? Das ist für mich interessant, da ich auch gebrauchte Festplatten kaufe.

Ich habe jetzt im Netz gefunden: "durch ein Low-Level Format wurden die SMART-Werte mit resettet ...". Wow, da haben die Daten doch keine Aussagekraft bei einem Gebrauchtkauf oder gibt es eine Möglichkeit auszulesen, wann z.B. ein Selbsttest gemacht wurde (oder ähnliches)? Wenn so ein Selbsttest vor der angegebenen Betriebsstundenzahl liegen würde, dann wäre was faul. Gibt es so etwas bzw. geht so etwas?