„Standard Test Data Format“ – Versionsunterschied

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Version vom 30. Dezember 2020, 19:46 Uhr

Das STDF (Standard Test Data Format) ist ein record-orientiertes, binäres Datenformat zum Speichern von Messdaten in der ATE-Branche. Es kann in ein äquivalentes ASCII-Format (ATDF) umgewandelt werden.^[1]

Das Datenformat wurde von Teradyne entwickelt, inzwischen von vielen Testsystemherstellern unterstützt und hat sich zu einem Quasi-Standard entwickelt, der durch die IEEE Test Technology Standards Group^[2] und durch SEMI^[3] weiterentwickelt wird .

Versionen

STDF V4^[1]
STDF V3

Einzelnachweise

↑ ^a ^b Spezifikationen STDT und ATDF in den Libstdf Docs
↑ IEEE TTSG (Test Technology Standards Group/Committee), offizielle Website
↑ SEMI Collaborative Alliance for Semiconductor Test (CAST), offizielle Website

[libstdfdocs-1] Spezifikationen STDT und ATDF in den Libstdf Docs

[2] IEEE TTSG (Test Technology Standards Group/Committee), offizielle Website

[3] SEMI Collaborative Alliance for Semiconductor Test (CAST), offizielle Website

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-Das '''STDF''' (''Standard Test Data Format'') ist ein record-orientiertes, [[Binärdatei|binäres]] [[Datenformat]] zum Speichern von Messdaten in der [[Automatic Test Equipment|ATE]]-Branche. Es kann in ein äquivalentes [[ASCII]]-Format (ATDF) umgewandelt werden.<ref name="libstdfdocs">Spezifikationen STDT und ATDF in den [https://code.google.com/p/libstdf/source/browse/trunk/docs/ Libstdf Docs]</ref>
+Das '''STDF''' (''Standard Test Data Format'') ist ein record-orientiertes, [[Binärdatei|binäres]] [[Datenformat]] zum Speichern von [[Messdaten]] in der [[Automatic Test Equipment|ATE]]-Branche. Es kann in ein äquivalentes [[ASCII]]-Format&nbsp;(ATDF) umgewandelt werden.<ref name="libstdfdocs">Spezifikationen STDT und ATDF in den [https://code.google.com/p/libstdf/source/browse/trunk/docs/ Libstdf Docs]</ref>
-Entwickelt wurde das Datenformat von [[Teradyne]], es wird jedoch inzwischen von vielen Testsystemherstellern unterstützt und hat sich zu einem [[Quasi-Standard]] entwickelt der durch die [[IEEE]] Test Technology Standards Group<ref>[http://grouper.ieee.org/groups/ttsg/ IEEE TTSG (Test Technology Standards Group/Committee)], offizielle Website</ref> und durch [[Semiconductor Equipment and Materials International|SEMI]]<ref>[http://www.semi.org/IndustrySegments/Test/CAST/ SEMI Collaborative Alliance for Semiconductor Test (CAST)], offizielle Website</ref> weiterentwickelt wird .
+Das Datenformat wurde von [[Teradyne]] entwickelt, inzwischen von vielen Testsystemherstellern unterstützt und hat sich zu einem [[Quasi-Standard]] entwickelt, der durch die [[IEEE]] Test Technology Standards Group<ref>[http://grouper.ieee.org/groups/ttsg/ IEEE TTSG (Test Technology Standards Group/Committee)], offizielle Website</ref> und durch [[Semiconductor Equipment and Materials International|SEMI]]<ref>[http://www.semi.org/IndustrySegments/Test/CAST/ SEMI Collaborative Alliance for Semiconductor Test (CAST)], offizielle Website</ref> weiterentwickelt wird .
 == Versionen ==