Automatic Test Equipment (ATE) sind messtechnische Apparaturen, die vorwiegend zum Testen Integrierter Schaltkreise benutzt werden. Es können aber auch analoge Bauteile im eingelöteten Zustand auf ihre Parameter (Widerstand, Kapazität, Durchlassspannung, ...) getestet werden.
Da das ATE in seiner Performance den zu testenden Produkten überlegen sein muss, sind die Geräte meist sehr teuer und haben einen relativ hohen Anteil an den Produktionskosten (bis zu 30% bei sehr komplexen Bauteilen). Der Trend geht deshalb zu immer höherer Parallelität (gleichzeitiges Testen einer großen Anzahl von Bauteilen) und höherer Geschwindigkeit (Taktfrequenzen im GHz-Bereich).
Zusätzlich werden Funktionen der ATEs, als so genannte built-in-self-test-Einheiten (BIST), in die zu testenden Bauteile verlagert. Das verringert die Kosten für ATEs und reduziert Störungen durch die Leitungen/Kontaktiervorrichtungen zwischen ATE und zu testendem Bauteil (Device Under Test: DUT).
Bei digitalen Schaltungen, die Flip-Flops und/oder RAM-Speicher enthalten, ergibt sich für das ATE das Problem, dass die inneren Zustände nicht direkt ausgelesen oder verändert werden können. Hier kommt der I²C Bus zu Zuge, mit dessen Hilfe die internen Zustände der Schaltung beobachtet und geändert werden können.
Das Testen von komplexen Systemen, wie z.B. "Systems on Chip"- (SoC) und "mixed Signal"-Bauelementen (MSIC) mit sehr unterschiedlichen Signalen (analog, digital) bei sehr hohen Frequenzen, ist derzeitig die Herausforderung für die großen ATE-Hersteller (Advantest, Teradyne, Agilent, Schlumberger/NPTEST, Credence, Hewlett Packard).